CLASSIC MA2000
本分析儀經由紅外線光掃瞄液体透射及反散射現象由光強度之曲線變化可快速的分辨產品分散穩定狀態如均質、霜化、沉澱、凝集、結塊、相分離、懸浮、氣泡等狀態,如產品發生沉降狀態並可藉沉降速度測出粒徑大小。本分析儀可不需稀釋、不受顏色之影響。可比目視快4-50倍時間得知產品是否穩定。
光源880 nm紅外線二極体
偵測器光電二極体兩個
一次掃瞄高度40um
試管掃瞄高度80mm
規格:濃度0-60%v/v
粒度測定範圍:0.1um ~ 1000um(限會沉降之產品)